基于 TCT 与 $^{90}\mathrm{Sr}$ 的 RD50-MPW2 DMAPS 原型时间分辨率测量
仪器与探测器
2024-06-04 v2
摘要
本文结果展示了针对 RD50-MPW2 原型 CMOS 粒子探测器有源像素时间分辨率的深入研究。采用的测量技术包括背侧和边缘 TCT 配置，以及来自 源的电子信息。使用了一个辐照至 的样品来研究辐射损伤效应。针对整个像素矩阵以及单个像素内随沉积电荷变化的位置敏感性评估了计时性能。通过 TCT 获得的时间分辨率在像素中心区域均匀，沉积电荷为 时约为 ，在边缘和较低沉积电荷值处退化。 测量显示出稍差的时间分辨率，这是由像素周边区域产生的延迟事件所致。
引用
@article{arxiv.2312.01793,
title = {Measurements of time resolution of the RD50-MPW2 DMAPS prototype using TCT and $^{90}\mathrm{Sr}$},
author = {J. Debevc and M. Franks and B. Hiti and U. Kraemer and G. Kramberger and I. Mandić and R. Marco-Hernández and D. J. L. Nobels and S. Powell and J. Sonneveld and H. Steininger and C. Tsolanta and E. Vilella and C. Zhang},
journal= {arXiv preprint arXiv:2312.01793},
year = {2024}
}