纳米尺度横向诱导光力的测量
光学
2017-03-08 v1
摘要
我们展示了使用原子力显微镜(AFM)对横向诱导光力进行的测量。通过测量镀金AFM探针尖端与金膜中纳米孔之间的横向光力，绘制了二者间的横向电场分布。利用AFM悬臂探针的扭转本征模来检测横向诱导光力。我们使用聚焦离子束对悬臂形状进行工程化改造，以增强扭转本征模共振。测得的横向光力与模拟结果吻合良好。该技术可扩展为利用AFM悬臂作为多通道检测器在纳米尺度同时检测横向与纵向光力。这将使得能够利用不同入射场偏振对分子响应进行同步光子诱导力显微镜(PIFM)检测。该技术可在基于悬臂与音叉的AFM上实现。
引用
@article{arxiv.1605.03163,
title = {Measurement of Laterally Induced Optical Forces at the Nanoscale},
author = {Fei Huang and Venkata Ananth Tamma and Hemanta Kumar Wickramasinghe},
journal= {arXiv preprint arXiv:1605.03163},
year = {2017}
}
备注
First Draft, 6 pages, 4 figures