纳米腔阵列中复散射矩阵测量用于边界散射断层扫描
光学
2026-05-01 v1
摘要
单晶硅光子耦合腔阵列（CCA）是量子模拟器的有前景平台，具备高品质（Q）因子腔体、可调性及制造业兼容性。此外，可实现可扩展的二维（2D）硅光子 CCA 允许通过哈密顿工程模拟丰富的物理现象。然而，哈密顿的完全重构受限于对腔体的可及性，现有方法依赖于对 bulk 腔体散射光的成像。这些方法通常需要额外构建散射体，限制了可扩展性，同时也受制于近红外波段的成像技术。相反，需依赖边界测量的哈密顿断层扫描算法在文献中已被演示，但沿 CCA 边界的复散射测量尚未实现。在本文中，我们实验演示了一个 硅光子racetrack resonator阵列沿单个边界的全息测量 setup，并重构了系统边缘散射矩阵。
引用
@article{arxiv.2604.27214,
title = {Measurement of complex scattering matrix in a nano-cavity array for boundary scattering tomography},
author = {Andrew Tang and Romil Audhkhasi and Virat Tara and Abhi Saxena and Gokul Nath and Arka Majumdar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2604.27214},
year = {2026}
}