磁通弛豫现象的数学模型
超导电性
2010-09-10 v2
摘要
对II型超导体磁通弛豫现象的研究十分重要，因为其提供了关于超导体磁通钉扎能力与载流能力的信息。然而，目前尚无关于磁通弛豫的统一理论。在此，我提出一个磁通弛豫的通用数学模型。在该模型中，我提出了激活能的级数展开，并推导了电流衰减行为的一般公式。基于这些公式，我能够分析电流衰减行为的实验数据，进而不受任何特殊条件限制地计算涡旋系统的激活能。该结果对来自 超导体的电流衰减测量是准确的。
引用
@article{arxiv.1003.0749,
title = {Mathematical model of flux relaxation phenomenon},
author = {Rongchao Ma},
journal= {arXiv preprint arXiv:1003.0749},
year = {2010}
}