从任意磁通弛豫过程确定临界电流密度
超导电性
2012-01-24 v3
摘要
第二类超导体的载流能力通常由其临界电流密度表示。这可以通过测量从大于或等于临界值的测试电流密度开始的磁通弛豫过程来确定。这里我们表明，通过引入一个虚拟时间间隔，可以将从中间电流密度开始的磁通弛豫过程转换为从临界电流密度开始的过程。因此，可以从从低于临界值的电流密度开始的磁通弛豫过程计算临界电流密度。还讨论了磁通弛豫过程中电流密度时间依赖性的精确解。
引用
@article{arxiv.1101.0442,
title = {Determination of critical current density from arbitrary flux relaxation process},
author = {Rongchao Ma},
journal= {arXiv preprint arXiv:1101.0442},
year = {2012}
}
备注
5 pages