映射多终端Josephson结拓扑近似致能隙
介观与纳米尺度物理
2024-12-17 v2
摘要
多终端Josephson结(MTJJs)是由正常金属与三个或更多超导导体接触而成的器件，被提议为人工拓扑晶体的类比物。在正常金属中表现出的拓扑性质表现为准粒子密度状态(DoS)的调制，这可以通过隧穿测量进行探测。我们表明，通过测量具有正常金属接触的扩散MTJJs的电阻，可以揭示这种调制。电阻随相位差集合{}的变化呈现丰富的结构。我们的方法展示了一种简单而强大的探索MTJJs中拓扑效应的技术。
关键词
引用
@article{arxiv.2408.09023,
title = {Mapping the topological proximity-induced gap of multiterminal Josephson junctions},
author = {Maxwell Wisne and Yanpei Deng and Markus Lilja and Pertti Hakonen and Venkat Chandrasekhar},
journal= {arXiv preprint arXiv:2408.09023},
year = {2024}
}
备注
6 pages, 4 figures