利用X射线磁圆二色性研究n型铁磁半导体(In,Fe)As:Be的磁化过程
材料科学
2016-01-27 v1 强关联电子
摘要
为了研究新型Be共掺杂n型磁性半导体(In,Fe)As中铁磁有序的机制，我们对铁磁和顺磁样品进行了X射线吸收谱和X射线磁圆二色性(XMCD)研究。谱线形状表明铁磁性是本征的，源于掺入闪锌矿型InAs晶格的Fe原子。由XMCD测量的Fe磁化曲线很好地由代表纳米尺度铁磁畴超顺磁(SPM)行为的朗之万函数与代表居里-外斯顺磁性的T线性函数叠加再现，即使在远高于居里温度时也是如此。20 K的数据显示出对朗之万行为的偏离，表明随温度降低宏观铁磁性逐渐建立。SPM行为所指示的纳米尺度铁磁畴的存在，暗示了Fe浓度的纳米尺度空间涨落。
引用
@article{arxiv.1505.01402,
title = {Magnetization Process of the n-type Ferromagnetic Semiconductor (In,Fe)As:Be Studied by X-ray Magnetic Circular Dichroism},
author = {Shoya Sakamoto and Le Duc Anh and Pham Nam Hai and Goro Shibata and Yukiharu Takeda and Masaki Kobayashi and Yukio Takahashi and Tsuneharu Koide and Masaaki Tanaka and Atsushi Fujimori},
journal= {arXiv preprint arXiv:1505.01402},
year = {2016}
}