辐射劈裂模型中轻子味破坏分支比的下界

我们研究了Krauss、Nasri和Trodden提出的三圈辐射劈裂模型中的轻子味破坏衰变，如$\mu\to e\gamma$、$\tau\to e\gamma$、$\tau\to \mu\gamma$。在该模型中，在圈图内部运行以产生适当中微子质量量级的较重标量所对应的耦合常数更大。施加所有耦合常数必须足够小以便进行微扰处理的标准，我们得到了其中一个标量的质量上限。将其与中微子质量参数结合，我们推导出了轻子味破坏过程分支比的下界。在反质量序且采用最佳拟合中微子振荡参数的情形下，其中一个下界为$\text{Br}(\mu\to e\gamma)>1.1\times 10^{-13}$，这在MEG~II实验的可及范围内。