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孤对电子效应对 Cu$_2$ZnSnS$_4$ 太阳能电池中载流子俘获的影响

材料科学 2019-08-01 v1

摘要

黄锡矿薄膜太阳能电池的性能受限于由缺陷介导的电子–空穴复合引起的低开路电压。我们从第一性原理计算了 Cu2_2ZnSnS4_4 (CZTS) 中深能级点缺陷的非辐射载流子俘获截面与 Shockley-Read-Hall 复合系数。虽然在化学计量 CZTS 中 Sn 的氧化态为 +4,惰性孤对电子(5s2s^2)的形成将氧化态降低至 +2。孤对电子的稳定性抑制了某些点缺陷的电离,从而在带隙中诱发电荷跃迁能级。我们发现与孤对电子缺陷中心相关的大晶格畸变源于 Sn(II) 与 Sn(IV) 离子半径的差异。深陷阱能级与大晶格畸变的结合促进了高效的非辐射载流子俘获,其俘获截面超过 101210^{-12} cm2^2。结果凸显了氧化还原活性阳离子与形成巨型载流子陷阱的“杀手”缺陷中心之间的联系。这一孤对电子效应将与其它含 ns2s^2 阳离子的新兴光伏材料相关。

关键词

引用

@article{arxiv.1810.11259,
  title  = {Lone-pair effect on carrier capture in Cu$_2$ZnSnS$_4$ solar cells},
  author = {Sunghyun Kim and Ji-Sang Park and Samantha N. Hood and Aron Walsh},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1810.11259},
  year   = {2019}
}