利用多量子点共焦激光光谱定位环境电荷杂质
介观与纳米尺度物理
2015-06-23 v1 光学
摘要
我们利用多共焦 InGaAs 量子点的共振激光光谱技术，对周围半导体基质中的电荷涨落源进行了空间定位。通过在场效应器件中绘制窄带激光与单个量子点中性激子跃迁之间的共振条件图，我们识别出光谱不连续性源于量子点相邻体积内发生的充电和放电事件。我们的分析表明，残留的碳掺杂剂是量子点异质结构中电荷涨落陷阱的主要来源。
引用
@article{arxiv.1410.1341,
title = {Locating environmental charge impurities with confluent laser spectroscopy of multiple quantum dots},
author = {M. Hauck and F. Seilmeier and S. E. Beavan and A. Badolato and P. M. Petroff and A. Högele},
journal= {arXiv preprint arXiv:1410.1341},
year = {2015}
}