扫描门显微镜中介观样品的局域态密度
介观与纳米尺度物理
2008-03-13 v1
摘要
我们研究了在扫描门显微镜实验中，带电探针在样品表面上方扫描时，局域态密度（LDOS）与电导变化 ΔG 之间的关系。我们给出了一个解析模型，表明在线性响应区域，电导偏移 ΔG 与 LDOS 的希尔伯特变换成正比，因此 LDOS 与 ΔG 之间满足广义克喇末-克勒尼希关系。我们分析了该关系成立所需的物理条件，分别考虑一维和二维系统中多个通道对输运的贡献。我们聚焦于含随机杂质分布的真实阿哈罗诺夫-玻姆环，并在局域态或半经典轨道表征系统波函数时，通过精确数值模拟分析了 LDOS-ΔG 对应关系。
引用
@article{arxiv.0711.3370,
title = {Local Density of States in Mesoscopic Samples from Scanning Gate Microscopy},
author = {M. G. Pala and B. Hackens and F. Martins and H. Sellier and V. Bayot and S. Huant and T. Ouisse},
journal= {arXiv preprint arXiv:0711.3370},
year = {2008}
}
备注
8 pages, 8 figures