二色角分辨光电子能谱中的局域贝里曲率特征

拓扑非平凡二维材料在下一代光电子应用中极具前景。然而，测量霍尔或自旋霍尔响应常具挑战性，且实际上局限于基态。一种以微分方式追踪拓扑特性的实验技术将提供有益见解。本工作中，我们展示圆二色角分辨光电子能谱（ARPES）提供了一种强有力的工具，可分辨动量空间中的拓扑与量子几何特征。特别地，我们研究如何利用局域贝里曲率与轨道角动量的紧密关联来绘制其信号。对光电子的自旋分辨探测可将该方法扩展至自旋陈数绝缘体。我们的预测得到采用含时密度泛函理论的最先进第一性原理模拟以及模型计算的佐证。本方案可扩展至以时间分辨方式研究非平衡态材料的拓扑性质。