荧光显微镜中粒子位置的似然推断
应用统计
2010-11-10 v1
摘要
我们介绍了一种自动计数和定位显微图像中荧光粒子的方法。该方法采用基于光子发射的泊松随机场模型推导出的近似似然估计量。对于每幅图像，在生成参数估计值的同时，还生成标准误差的估计值，并使用信息准则和似然比检验确定图像中的粒子数量。逼真的模拟表明，我们的方法具有鲁棒性，并且能够获得参数和标准误差的准确估计。该方法通过为某些荧光图像提供更明确的随机模型，并采用一致的框架进行分析，改进了先前临时的最小二乘方法。
引用
@article{arxiv.1011.2005,
title = {Likelihood inference for particle location in fluorescence microscopy},
author = {John Hughes and John Fricks and William Hancock},
journal= {arXiv preprint arXiv:1011.2005},
year = {2010}
}
备注
Published in at http://dx.doi.org/10.1214/09-AOAS299 the Annals of Applied Statistics (http://www.imstat.org/aoas/) by the Institute of Mathematical Statistics (http://www.imstat.org)