从τ轻子独有衰变测量轻夸克质量：一项实验提案

我们详细阐述了一种间接测量轻夸克运行质量 $\hat{m} = (m_d + m_u)/2$ 的方法。该方法基于测量衰变 $\tau \rightarrow \nu_\tau + 3\pi$ 中1%水平的方位角不对称性。然后利用QCD求和规则将这些不对称性用于获得 $\hat{m}$ 的实验下限。对于 $2.5 \times 10^5$ 个无背景的 $\tau \rightarrow \nu_\tau + 3\pi$ 衰变样本，$\hat{m}$ 下限的统计误差估计为1 MeV，与使用QCD求和规则带来的系统误差相当。本文为1993年6月1-3日于西班牙马尔贝拉举行的第三届τ粲工厂研讨会投稿。