无R宇称超对称中的轻子辐射衰变

我们给出了无R宇称超对称中μ和τ辐射衰变（即μ → eγ、τ → eγ和τ → μγ）分支比单圈贡献的详细分析以及精确数值计算，重点关注涉及双线性耦合的贡献。进行了数值研究，以在当前实验极限下获得参数的显式界限。我们给出并在计算中使用了精确质量本征态有效耦合的公式。从这个意义上说，我们首次提出了一个无近似的精确分析。在将我们的结果与最近的早期分析进行比较后，我们发现某些μ_i^* B_j组合的约束结果存在重大差异。考虑了中微子质量对参数的约束。我们的结果表明，MEG实验所瞄准的μ → eγ分支比测量低至10^{-13}-10^{-14}及以下，有观察到来自R宇称破缺情景衰变的机会。