超薄 Ta$_2$Pd$_3$Te$_5$ 的层依赖拉曼光谱研究
材料科学
2024-03-01 v1
摘要
二维拓扑绝缘体 (2DTIs) 或量子自旋霍尔绝缘体因其在下一代自旋电子器件中的潜在应用而受到越来越多的关注。尽管前景广阔，但可实现的 2DTIs 仍然有限。最近，半导体范德华材料 Ta2Pd3Te5 显示出量子自旋霍尔态的光谱证据。然而，实现量子自旋霍尔器件的关键步骤——可控制备少层至单层样品——尚未实现。在本工作中，我们制备了少层至单层的 TaPdTe，并进行了系统的厚度和温度依赖拉曼光谱测量。我们的结果表明，拉曼光谱可提供有价值的信息以确定 Ta2Pd3Te5 薄片的厚度。此外，我们的角分辨偏振拉曼 (ARPR) 光谱测量显示，由于其准一维原子结构，拉曼峰的强度表现出强烈的各向异性，这为确定其晶体取向提供了一种直接的方法。我们的发现可能会激发进一步的努力，以实现基于少层或单层 TaPdTe 的量子器件。
引用
@article{arxiv.2402.18833,
title = {Layer-dependent Raman spectroscopy of ultrathin Ta$_2$Pd$_3$Te$_5$},
author = {Zhenyu Sun and Zhaopeng Guo and Dayu Yan and Peng Cheng and Lan Chen and Youguo Shi and Yuan Huang and Zhijun Wang and Kehui Wu and Baojie Feng},
journal= {arXiv preprint arXiv:2402.18833},
year = {2024}
}