中文

千字节级、无选择器、高温耐热的 AlScN 铁电二极管交叉阵列

介观与纳米尺度物理 2025-06-09 v1

摘要

我们报道了利用铝硅氮化物(AlScN)制造的千字节级、无选择器、铁电(FE)二极管交叉存储器阵列。该工艺完全兼容 CMOS 后端工艺(BEOL),制造了 2KB(128 ×\times 128)阵列,器件直径可缩小至 5 μ\mum,实现最高 2500 比特/mm2^2 的存储密度。对 1000 台随机挑选的器件进行大规模电气特性测试,显示出 95.2% 的良率、较窄的开关电压分布(变异系数 CV 为 0.003),以及约 10 的恒定开/关比,CV 为 0.27。我们演示了该阵列实现无选择器的读写操作,得益于 FE 二极管的高非线性、整流性能和一致的开关行为。此外,我们验证了在最高可达 600 ^\circC 的温度下,阵列操作中的铁电开关始终如一。我们的结果凸显了 AlScN FE 二极管阵列在高效能、高密度存储应用中的潜力,为未来在计算近存储、高温存储和模拟存储计算系统中的集成奠定了基础。

关键词

引用

@article{arxiv.2506.05452,
  title  = {Kilobyte-Scale, Selector-Free, Temperature-Hard AlScN Ferroelectric Diode Crossbar Arrays},
  author = {Zirun Han and Chao-Chuan Chen and Dhiren K. Pradhan and David C. Moore and Ravali Gudavalli and Xindi Yang and Kwan-Ho Kim and Hyunmin Cho and Zachary Anderson and Spencer Ware and Harsh Yellai and W. Joshua Kennedy and Nicholas R. Glavin and Roy H. Olsson and Deep Jariwala},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2506.05452},
  year   = {2025}
}