基于 HgTe 的拓扑结中无隙安德烈夫束缚态产生的约瑟夫森辐射

对振荡约瑟夫森超流的射频发射进行频率分析，是探测拓扑约瑟夫森结性质的一种强有力的被动方法。特别是，约瑟夫森发射的测量能够检测到预期的拓扑无隙安德烈夫束缚态的存在，这些束缚态会导致在约瑟夫森频率 $f_J$ 的一半处产生发射，而非常规的 $f_J$ 处发射。在此，我们报道了对由基于 HgTe 的门可调拓扑弱连接制成的约瑟夫森结的射频发射光谱的直接测量。发射光谱在约瑟夫森频率的一半 $f_{\rm J}/2$ 处显示出清晰的信号。发射线的线宽表明 $f_{\rm J}/2$ 线的相干时间为 $0.3-\SI{4}{ns}$，远短于 $f_{\rm J}$ 线 ($3-\SI{4}{ns}$)。这些观测结果强烈指向拓扑无隙安德烈夫束缚态的存在，并为未来基于 HgTe 的拓扑量子计算平台铺平了道路。