曼哈顿环境中数据速率与电磁场暴露的联合分析：随机几何与射线追踪方法
信号处理
2023-01-27 v1
摘要
本研究旨在联合分析城市环境中的数据速率与电磁场（EMF）暴露。利用随机几何（SG），通过曼哈顿泊松线过程（MPLP）对这些环境建模，进行了网络级分析。在此框架下，推导了若干性能指标：数据速率与暴露的一阶矩、边缘分布与联合分布。此外，将原始曼哈顿模型推广以纳入高级特征：拐角衍射、街道中潜在阻挡物的存在，以及位于十字路口的用户。作为第二种方法，采用确定性射线追踪（RT）计算相同指标。在模型参数一致选取的条件下，两种方法结果接近。此外，数值结果有助于深入理解若干方面：传播机制在性能指标中的作用、速率与暴露要求之间的权衡，以及用户位置（十字路口或单一街道中）的影响。（本工作已提交至IEEE以期发表。版权可能在未通知的情况下转让，此后本版本可能无法访问）
引用
@article{arxiv.2301.11097,
title = {Joint data rate and EMF exposure analysis in Manhattan environments: stochastic geometry and ray tracing approaches},
author = {Charles Wiame and Simon Demey and Luc Vandendorpe and Philippe De Doncker and Claude Oestges},
journal= {arXiv preprint arXiv:2301.11097},
year = {2023}
}