805 MHz 筒形腔内表面击穿诱导表面损伤的研究
加速器物理
2014-09-22 v1
摘要
费米实验室的 MuCool 测试区 (MTA) 是一个旨在开发未来μ子对撞机和/或中微子工厂所需电离冷却技术的设施。作为该研究计划的一部分，我们在多特斯拉磁场中测试了两个 805 MHz 真空射频腔，以研究静磁场对腔体运行的影响。本研究提供了关于腔体内场致发射体、暗电流、表面 conditioning、击穿机制和腔体材料特性的有用信息。所有这些因素决定了腔体内的最大加速梯度。本文讨论了用于定量估计腔体内表面火花损伤斑点分布的图像处理技术。将该分布与计算机代码计算预测的电场分布进行了比较。局部火花密度与表面击穿概率成正比，并显示出对最大电场 (E) 的幂律依赖关系。这种对 E 的依赖关系与根据 Fowler-Nordheim 方程计算的暗电流一致。
引用
@article{arxiv.1409.5750,
title = {Investigation Of Breakdown Induced Surface Damage On 805 Mhz Pillbox Cavity Interior Surfaces},
author = {M. R. Jana and M. Chung and M. Leonova and A. Moretti and A. Tollestrup and K. Yonehara and B. Freemire and Y. Torun and D. Bowring and G. Flanagan},
journal= {arXiv preprint arXiv:1409.5750},
year = {2014}
}
备注
3 p. Presented at North American Particle Accelerator Conference (PAC13) Conference