探索MWA Phase II紧凑阵列中的相互耦合

测量高红移 21 cm 辐射的功率谱可用于探索第一盛然天体的形成以及由第一颗星释放的星际介质的电离。然而，这些红移下的 21 cm 信号远弱于天文学前景，使得测量具有挑战性。功率谱技术可能通过提取前景自由的傅里叶模式来规避前景，但这会因仪器系统aticities 而加剧，这些系统aticities 可向数据添加谱结构，将前景能量泄漏到前景自由的傅里叶模式中。因此，必须正确理解和消除任何仪器系统aticities。MWA Phase II 数据中识别到一种系统aticities，表现为可见性之间的过度相关。导致此类效应的可能解释是天线之间的相互耦合。已构建使用 FEKO 进行天线束面数值电磁仿真，以估计 MWA 中多个天线的此种效应幅度。数值模型预测的幅度超过了避免前景扩散的要求。仍需更多工作来更好地验证所需耦合水平，并验证近似是否低估了耦合水平。