衰变产生的中微子中的内禀味破坏

我们表明，在标准模型框架内，加上已知的三个有质量中微子和非平庸混合，在一般衰变中产生“错误”类型中微子的概率非零。这种效应相当于在产生时即存在内禀的味破坏（轻子味破坏），无需中微子传播。味破坏的确切量取决于待探测的中微子味态。在现实条件下，这种破坏很小，但远大于其他不以中微子为末态的非直接轻子味破坏过程。对于在连续谱中产生的中微子，我们表明，相对而言，该效应在谱的低能部分产生的中微子中更大。对于 μ 子衰变，如果假设通常的中微子味态，则在 $\mu^+\to\bnu_\tau e^+ \nu_e$ 道中可能出现高达 1% 的味破坏。我们还讨论了中微子味态的味破坏与味不确定性之间的关系。