太赫兹量子级联探测器中的界面粗糙度输运
介观与纳米尺度物理
2010-05-12 v1
摘要
基于量子级联的红外探测器已被提出用于抑制暗电流，而暗电流被认为是量子阱红外光电探测器的限制因素。这些探测器主要针对3-5微米和8-12微米波长范围设计。对于在太赫兹波段工作的探测器，由于光子能量低于纵向光学(LO)声子能量，预计输运机制将发生完全改变。通过使用二维输运代码，我们确定了界面粗糙度(IR)是此类结构中的关键相互作用。我们使用扫描透射电子显微镜(STEM)来评估IR参数（粗糙度幅度和缺陷之间的平均距离），而不是传统的迁移率测量方法。最后，我们利用这些参数研究了它们对器件电阻的影响。
引用
@article{arxiv.0910.5356,
title = {Interface roughness transport in THz quantum cascade detectors},
author = {Emmanuel Lhuillier and Isabelle Ribet-Mohamed and Emmanuel Rosencher and Gilles Patriarche and Amandine Buffaz and Vincent Berger and Mathieu Carras},
journal= {arXiv preprint arXiv:0910.5356},
year = {2010}
}