二维无序系统中表观金属 - 绝缘体转变相关的有限温度锐利连续相变迹象

在最近的一项实验中，Lai 等人 [Phys. Rev. B 75, 033314 (2007)] 研究了通过调节电荷载流子浓度 $n$ 的 Si 量子阱结构的表观金属 - 绝缘体转变（MIT）。他们观察到电导率 $\sigma(T,n)$ 在费米温度附近呈线性温度依赖性，并发现相应的 $T \to 0$ 外推值 $\sigma_0(n)$ 恰好在 MIT 处表现出锐利的弯曲。在此，重新审视 Lai 等人发表的数据表明，这种锐利弯曲与 $\sigma(T=const.,n)$ 的一个特性有关，该特性在整个高达 4 K（该工作中的最高测量温度）的 $T$ 范围内均可清晰检测到。由于这一特性似乎并未随 $T$ 增加而平滑化，它可能表明在有限温度下，表观金属传导区和激活传导区之间存在锐利的连续相变。文中讨论了文献中关于此类行为的线索。最后，标度分析揭示了与先前实验的相似性，并有助于理解该特性的形状以及在 $d log_{10} \sigma / d n (n)$ 中发现的锐利峰。