光电子发射电子显微镜中原位接触与电流注入样品
介观与纳米尺度物理
2014-07-18 v1
摘要
由于可能的应用和涉及的新颖物理，研究自旋极化电流与磁化构型的相互作用具有很高的兴趣。高分辨率磁成像是更好理解这些效应的关键技术之一。这里我们介绍一种对磁显微镜的扩展，它允许对研究中的结构进行原位电流注入，并且进一步允许在脉冲电流注入期间研究电流引起的磁化变化。所开发的装置高度灵活，可用于广泛的研究。展示了使用该装置测量的电流诱导畴壁运动和涡旋核心位移的示例。
引用
@article{arxiv.1007.5005,
title = {In-Situ Contacting and Current-Injection into Samples in Photoemission Electron Microscopes},
author = {L. Heyne and M. Kläui and L. Le Guyader and F. Nolting},
journal= {arXiv preprint arXiv:1007.5005},
year = {2014}
}
备注
11 pages, 5 figures