外尔半金属中的杂质散射及其稳定性分类
强关联电子
2013-12-17 v2 介观与纳米尺度物理
摘要
外尔半金属 (WS) 是一类新型狄拉克型材料,其相特征为具有体能带节点及与之相关的消失态密度 (DOS)。我们研究了在存在局域杂质的情况下这种节点态密度抑制的稳定性,并探讨了这种抑制是否会被杂质诱导的共振所消除。我们发现,虽然标量(化学势型)杂质总能在任意能量处诱导共振,从而消除狄拉克/外尔节点处的 DOS 抑制,但对于许多其他类型的杂质(例如磁性或轨道混合型),在很宽的能量范围内禁止出现共振。我们研究了一个改编自 Burkov、Hook 和 Balents 提出的物理异质结构构造的 WS 四带紧束缚模型,并将局域杂质势表示为强度 和矩阵结构 。我们发展了一个通用框架来分析这种共振二分法,将其与散射理论中的相移图像联系起来,并确定共振能量与杂质强度 之间的关系。基于 及其对节点 DOS 抑制的影响,我们对杂质进行了完整分类并列出了表格。我们还讨论了连续介质方法与晶格方法之间的差异。
引用
@article{arxiv.1310.0137,
title = {Impurity scattering in Weyl Semimetals and their stability classification},
author = {Zhoushen Huang and Daniel P. Arovas and Alexander V. Balatsky},
journal= {arXiv preprint arXiv:1310.0137},
year = {2013}
}
备注
20 pages + appendices, 5 figures. References updated. Figure color changed to improve readability. New section added to discuss the differences between continuum and lattice approaches. Published version