通过脉冲高度谱窗调整抑制错误符合事件以提升正电子寿命谱质量
仪器与探测器
2025-05-06 v1 核实验
摘要
正电子湮灭寿命谱学（PALS）是一种用于检测各类材料微观缺陷的强大技术。在常用的配备塑料闪烁体的 180° 探测器配置中，测量精度主要受同一探测器中同时探测到 1275 keV 和 511 keV γ 量子的影响。本研究提出了一种优化方法，在不需硬件修改的情况下显著提升谱质量。通过系统调整脉冲高度谱（PHS）中起始窗的上阈值，该方法有效减少了不需要的 1275/511 堆积事件。使用高纯度铝样品进行的实验验证表明，降低该阈值有效抑制了错误符合事件，得到的特征寿命更接近 90° 配置的结果。尽管降低上阈值由于有效减少闪烁光子数而略微展宽了仪器响应函数（IRF），但对时间分辨率的整体影响可忽略不计。该方法在保留 180° 配置高立体角效率优势的同时，提升了 PALS 测量的可靠性。
引用
@article{arxiv.2505.02584,
title = {Improving Positron Lifetime Spectra Quality by Suppressing Corrupted Coincidences via Pulse-Height Spectrum Window Adjustments},
author = {Dominik Boras and Danny Petschke and Torsten Staab},
journal= {arXiv preprint arXiv:2505.02584},
year = {2025}
}
备注
14 pages, 5 figures