自旋矩磁纳米器件中热致切换与非切换概率的重要性采样

自旋转移矩磁阻随机存取存储器在非易失性存储器市场中是一项潜在变革性技术。其可行性部分取决于人们可预测地诱导或防止切换的能力；然而，热涨落会在写入和读取过程中引起微小但重要的错误。使用朴素蒙特卡洛模拟计算这些磁纳米器件的极小概率由于其缓慢的统计收敛而基本不可能，但方差缩减技术可提供提高其效率的有效途径。在此，我们说明了如何高效使用重要性采样来估计宏自旋与耦合自旋系统的低读取与写入软错误率。