太赫兹频率下二氧化钒薄膜中纳米尺度相分离的成像
介观与纳米尺度物理
2018-10-24 v1 强关联电子
仪器与探测器
光学
摘要
我们使用无孔径散射近场光学显微镜（SNOM）研究二氧化钒（VO2）薄膜在温度诱导的绝缘体-金属转变（IMT）过程中的纳米尺度光学响应。我们利用定制构建的兼容低温和高温的宽带太赫兹SNOM，比较了中红外（MIR）和太赫兹（THz）频率下该转变的图像。我们观察到VO2薄膜中空间不均匀性的特征强烈依赖于探测频率。此外，我们发现单个绝缘（或金属）畴具有温度依赖的光学响应，这与经典一级相变的假设相反。我们结合最近应用于VO2的二聚体哈伯德（Hubbard）模型的动力学平均场理论计算来讨论这些结果。
引用
@article{arxiv.1711.05242,
title = {Imaging the nanoscale phase separation in vanadium dioxide thin films at terahertz frequencies},
author = {H. T. Stinson and A. Sternbach and O. Najera and R. Jing and A. S. Mcleod and T. V. Slusar and A. Mueller and L. Anderegg and H. T. Kim and M. Rozenberg and D. N. Basov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1711.05242},
year = {2018}
}