表面等离激元成像：从泄漏波到远场辐射
光学
2015-06-18 v1
摘要
我们表明，与普遍看法相反，在泄漏辐射显微镜的成像过程中并不涉及表面等离激元极点。通过直接从横向磁势确定泄漏辐射模式，我们重新审视了表面等离激元场，并揭示了图像形成中的非等离激元贡献。尽管这两种贡献在成像过程中相互干涉，我们的分析表明，重新评估的等离激元场包含一个在数学上与通常的表面等离激元极点相似的极点。这消除了泄漏辐射显微镜中等离激元信号长期存在的模糊性。
引用
@article{arxiv.1402.5273,
title = {Imaging surface plasmons: from leaky waves to far-field radiation},
author = {A. Drezet and C. Genet},
journal= {arXiv preprint arXiv:1402.5273},
year = {2015}
}
备注
This contains the original Phys. Rev. Lett. article and the supplementary information file