强耦合磁感应表面的兆赫兹范围近场成像：理论模型与实验验证

在这项工作中，分析了由两个强耦合的开口谐振环阵列进行的近场成像。开发了一个简单的理论模型来获得透镜的传递函数。该模型表明，磁感应表面波（MISWs）在负折射平板中扮演着与等离激元-极化激元相同的角色。特别是，该模型预测图像在环的谐振频率附近形成，位于透镜中可激发的两个MISW分支的通带之间。它还预测，当源与像面之间的距离小于透镜宽度的两倍时，图像会显著增强。理论模型的预测得到了射频范围测量的支持。这表明了使用此类器件进行兆赫兹范围成像过程的可能性，例如在磁共振成像中。