基于编码孔径的CMOS偏振计X射线数据成像重建方法
天体物理仪器与方法
2024-07-09 v1 仪器与探测器
摘要
X射线偏振是揭示高能天体各向异性特征的有力工具。我们提出了一种新颖的成像重建方法，专为采用硅CMOS传感器和编码孔径的硬X射线偏振计设计，它们分别充当光电子跟踪器和成像光学元件。针对传统平衡相关方法在编码孔径成像中产生的严重伪影和背景噪声挑战，我们采用期望最大化(EM)算法作为成像重建方法的基础。新开发的成像重建方法通过成像偏振测量和一系列X射线束实验进行了验证。该方法展示了准确再现由多个具有不同偏振度的片段组成的扩展源的能力。比较分析表明，与平衡相关方法相比，成像重建精度显著提高，背景噪声水平降低至17%。本研究结果增强了立方星成像偏振测量任务在硬X射线波段的可行性，因为硅CMOS传感器与编码孔径的结合是实现这一目标的有前景的方法。
引用
@article{arxiv.2407.05443,
title = {Imaging reconstruction method on X-ray data of CMOS polarimeter combined with coded aperture},
author = {Tsubasa Tamba and Hirokazu Odaka and Taihei Watanabe and Toshiya Iwata and Tomoaki Kasuga and Atsushi Tanimoto and Satoshi Takashima and Masahiro Ichihashi and Hiromasa Suzuki and Aya Bamba},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.05443},
year = {2024}
}
备注
12 pages, 5 figures, 1 table, accepted for publication in NIM-A