碳纳米管网络晶体管中的耗散与热点成像
介观与纳米尺度物理
2011-02-22 v2 材料科学
摘要
我们使用红外热测量法对碳纳米管网络(CNN)晶体管进行研究，发现在工作过程中会形成明显的热点。然而，击穿时CNN的平均温度显著低于单个纳米管击穿时的预期温度，这表明在纳米管结处存在极高的功率耗散区域。统计分析以及与热模型的比较，使我们能够提取出平均管-管结热阻，约为 K/W（热导率约为2.27 pW/K）。这表明，与低衬底热导率等外在因素相比，纳米管结对CNN的输运、耗散和可靠性具有更大的影响。
引用
@article{arxiv.1011.4551,
title = {Imaging Dissipation and Hot Spots in Carbon Nanotube Network Transistors},
author = {David Estrada and Eric Pop},
journal= {arXiv preprint arXiv:1011.4551},
year = {2011}
}