通过角分辨光电子能谱鉴定 PdTe2 超导体中的拓扑表面态
超导电性
2015-05-27 v2 材料科学
强关联电子
摘要
我们对过渡金属二硫族化物 PdTe2（一种 Tc 为 1.7 K 的超导体）进行了高分辨率角分辨光电子能谱测量。结合理论计算，我们首次发现了 PdTe2 超导体中存在具有 Dirac 锥的拓扑非平庸表面态。它位于布里渊区中心，并具有螺旋自旋纹理。不同于通常的三维拓扑绝缘体其表面态的 Dirac 锥位于费米能级，PdTe2 中表面态的 Dirac 点深位于费米能级以下约 1.75 eV 结合能处，并与体态良好分离。在 PdTe2 超导体中鉴定出深位于费米能级以下的拓扑表面态，为探索新现象和属性提供了独特体系，并为在过渡金属硫族化物中寻找新拓扑材料打开了大门。
引用
@article{arxiv.1505.06642,
title = {Identification of Topological Surface State in PdTe2 Superconductor by Angle-Resolved Photoemission Spectroscopy},
author = {Yan Liu and Jianzhou Zhao and Li Yu and Chengtian Lin and Aiji Liang and Cheng Hu and Ying Ding and Yu Xu and Shaolong He and Lin Zhao and Guodong Liu and Xiaoli Dong and Jun Zhang and Chuangtian Chen and Zuyan Xu and Hongming Weng and Xi Dai and Zhong Fang and X. J. Zhou},
journal= {arXiv preprint arXiv:1505.06642},
year = {2015}
}
备注
12 Pages, 4 Figures, Updated Figure 1