基于滑移迹-修正晶格旋转分析(ST-MLRA)的多晶活性滑移系识别
材料科学
2022-03-11 v1
摘要
本文提出一种简单且通用的策略,称为滑移迹-修正晶格旋转分析(ST-MLRA),用于根据表面信息识别多晶合金中的活性滑移系。利用滑移面迹线取向确定潜在的活性滑移面,而活性滑移面内的实际滑移方向由晶粒旋转获得,这体现为变形后极图中晶粒取向迹线被拉伸。文中给出该策略在 HCP Mg 合金中的应用示例以作说明。它们表明该策略易于实现,并可识别各晶粒中的活性滑移系。
引用
@article{arxiv.2203.01476,
title = {Identification of active slip systems in polycrystals by Slip Trace -- Modified Lattice Rotation Analysis (ST-MLRA)},
author = {Biaobiao Yang and Chenying Shi and Ruilin Lai and Dongfeng Shi and Dikai Guan and Gaoming Zhu and Yujie Cui and Guoqiang Xie and Yunping Li and Akihiko Chiba and Javier LLorca},
journal= {arXiv preprint arXiv:2203.01476},
year = {2022}
}