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利用电子背散射衍射表征高应变率变形锆中的滑移与孪生

材料科学 2018-03-02 v1

摘要

锆合金在核工业中用作结构材料,在成形过程及反应堆事故情形下可能承受高应变率载荷条件。在此背景下,本文探究了依赖于应变率的力学性质、晶体学织构与变形模式(如滑移与变形孪生)之间的关系。将商业纯锆在准静态与高应变率载荷下变形至 10% 工程应变,并利用电子背散射衍射(EBSD)对样品进行事后分析,以观察被激活的不同孪生与滑移系统。孪生类型由局部晶粒间取向差图识别,活跃滑移系统由长程晶粒内取向差图识别。我们将力学响应、孪生类型与形貌以及相对滑移系统激活程度随加载模式的变化进行了关联。我们发现强度与硬化方面的差异可与孪生相对倾向及活跃滑移系统数目相关联。

关键词

引用

@article{arxiv.1803.00236,
  title  = {Characterisation of slip and twinning in high rate deformed zirconium with electron backscatter diffraction},
  author = {Vivian Tong and Euan Wielewski and Ben Britton},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1803.00236},
  year   = {2018}
}

备注

As submitted pre-print