i-TED：一种高灵敏度 (n,$\gamma$) 截面测量的新概念

本文提出了一种旨在提高信噪比的测量 \ngr 截面的新方法。该新方法基于脉冲高度加权技术与具有 $\gamma$ 射线成像能力的总能量探测系统（i-TED）的结合。后者允许利用康普顿成像技术，区分源自待研究样品的真实俘获 $\gamma$ 射线与源自周围环境污染物中子（瞬发或延迟）俘获的本底 $\gamma$ 射线。本文介绍了适用于该应用的通用原理验证探测系统，描述了成像方法，并展示了基于蒙特卡罗模拟的概念验证。