中文

薄膜光伏及相关结构中的热点失控

介观与纳米尺度物理 2015-06-16 v1

摘要

我们表明,薄膜二极管结构(如光伏器件和发光阵列)可能发生零阈值局部热失控,导致热和电的不均匀性在原本均匀的系统中自发出现。我们针对热电耦合的两个离散二极管系统以及分布系统开发了线性稳定性分析。这些结果通过数值模拟得到了验证,该模拟不限于小扰动。所发现的不稳定性会对器件性能和可靠性产生负面影响。由此可见,通过合理设计器件几何结构和热绝缘可以缓解这些问题。

关键词

引用

@article{arxiv.1308.0760,
  title  = {Hot spot runaway in thin film photovoltaics and related structures},
  author = {V. G. Karpov and A. Vasko and A. Vijh},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1308.0760},
  year   = {2015}
}

备注

4 pages, 4 figures