非均匀薄膜半导体结构中的耦合电子 - 热输运
无序系统与神经网络
2015-06-05 v1 介观与纳米尺度物理
摘要
本文发展了一种半导体薄膜中横向电子输运与热传递耦合的理论，旨在概念性地模拟现代电子器件结构。横向电流通过热激活电导产生正反馈的焦耳热。这可能导致称为热失控、热点或可逆热击穿的失稳现象。本文的理论基于最优涨落方法，并对其进行修正以描述决定此类失稳速率及其演化条件的鞍点驻点。取决于材料和系统参数，这些失稳以相变的方式出现，类似于成核或旋节分解。
引用
@article{arxiv.1207.6709,
title = {Coupled electron--heat transport in nonuniform thin film semiconductor structures},
author = {V. G. Karpov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1207.6709},
year = {2015}
}
备注
11 pages, 4 figures