基于碳化硅中单轴量子中心的高精度矢量磁测量
材料科学
2015-07-21 v1
摘要
我们表明，具有六方晶格结构的碳化硅中的单轴色心可用于高精度测量外部磁场相对于缺陷轴的强度与极角。该方法基于具有四重态基态的硅空位缺陷中多重自旋共振的光学探测。我们在无任何拟合参数的情况下实现了实验与计算的自旋共振谱之间的完美吻合，在高达数毫特斯拉的磁场范围内提供几度的角度分辨率。我们的方法适用于系综以及单个自旋-3/2色心，允许在环境条件下进行纳米尺度矢量磁测量。
引用
@article{arxiv.1505.00176,
title = {High precision vector magnetometry with uniaxial quantum centers in silicon carbide},
author = {D. Simin and F. Fuchs and H. Kraus and A. Sperlich and P. G. Baranov and G. V. Astakhov and V. Dyakonov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1505.00176},
year = {2015}
}