从 10 mK 到室温的高精度低激发电容测量方法
介观与纳米尺度物理
2022-12-29 v1
摘要
电容测量是研究量子器件的一种有用技术，因为它直接探测局域粒子充电特性，即系统压缩率。在此我们报道一种可从 mK 到室温以极高精度测量电容的方法。我们的实验表明，这种高精度技术能够揭示高迁移率二维电子系统的精细且本质的特性。
引用
@article{arxiv.2202.04442,
title = {High Precision, Low Excitation Capactiance Measurement Methods from 10 mK- to Room-Temperature},
author = {Lili Zhao and Wenlu Lin and Xing Fan and Yuanjun Song and Hong Lu and Yang Liu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2202.04442},
year = {2022}
}