单个离子塞曼量子比特的高保真度状态探测与层析成像
量子物理
2013-05-29 v1
摘要
我们展示了在单个囚禁的⁸⁸Sr⁺离子中实现的高保真度塞曼量子比特状态探测。量子比特读出通过使用674 nm窄线宽二极管激光器将其中一个量子比特状态搁置到一个亚稳态能级，然后进行状态选择性荧光探测来完成。量子比特状态读出的平均保真度达到0.9989(1)。随后，我们测量了在所有可能的单量子比特状态上平均的状态层析成像保真度，结果为0.9979(2)。我们还利用量子过程层析成像全面表征了探测过程。该读出保真度与近期对容错计算所需探测误差阈值的估计相符，而高保真度状态层析成像则为高精度量子过程层析成像开辟了道路。
引用
@article{arxiv.1103.5253,
title = {High-fidelity state detection and tomography of a single ion Zeeman qubit},
author = {Anna Keselman and Yinnon Glickman and Nitzan Akerman and Shlomi Kotler and Roee Ozeri},
journal= {arXiv preprint arXiv:1103.5253},
year = {2013}
}