囚禁离子量子比特寄存器的高保真度同步探测
量子物理
2021-06-30 v2
摘要
量子比特态探测是量子计算的重要组成部分。随着量子寄存器中量子比特数量的增加，有必要保持高保真度探测以精确测量多量子比特态。在此，我们实验演示了对多量子比特囚禁离子寄存器的高保真度探测，平均单量子比特探测误差为 4.2(1.5) ppm，4 量子比特态探测误差为 17(2) ppm，该误差受限于量子比特的衰变寿命；所用设备为一种新型单光子敏感相机，具有快速数据采集、优异的时间与空间分辨率以及低仪器串扰。
引用
@article{arxiv.2006.12801,
title = {High-Fidelity Simultaneous Detection of Trapped Ion Qubit Register},
author = {Liudmila A. Zhukas and Peter Svihra and Andrei Nomerotski and Boris B. Blinov},
journal= {arXiv preprint arXiv:2006.12801},
year = {2021}
}