量子比特寄存器近乎完美的同步测量
量子物理
2007-05-23 v2
摘要
利用增强电荷耦合器件(CCD)成像仪实现了对囚禁在111Cd+离子超精细能级中的多个量子比特的同步测量。提出了超精细量子比特荧光探测的一般理论，并应用于实验数据。使用成像仪进行光子探测可实现多量子比特态测量，探测保真度大于98%。在可扩展量子计算架构的背景下讨论了读出速度与保真度的改进。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0511257,
title = {Near-Perfect Simultaneous Measurement of a Qubit Register},
author = {M. Acton and K. -A. Brickman and P. C. Haljan and P. J. Lee and L. Deslauriers and C. Monroe},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0511257},
year = {2007}
}
备注
18 pages, 7 figures; revised version has grammatical changes, updated references, and referee suggested changes particularly to CCD noise section