标准模型与 MSSM 对电弱精密数据的全局拟合

一个包含与标准模型（SM）相同级别辐射修正的 MSSM 辐射修正程序已被开发出来，并用于对来自 LEP、SLC 和 Tevatron 的所有电弱数据以及来自 CLEO 的辐射性 $b \to s\gamma$ 衰变进行全局拟合。在 SM 和 MSSM 中，均推导出了 $M_Z$ 尺度下的强耦合常数值与 $\sin^2\theta_{\overline{MS}}$ 的值。1996 年夏季华沙会议上报告的电弱数据最新更新，将 $R_b$ 反常从 3.2 $\sigma$ 降低至 1.8 $\sigma$ 效应。此外，$b \to s\gamma$ 衰变率比 SM 预言低 30%。在 MSSM 中，轻的 stop 和轻的 chargino 会增加 $R_b$ 并降低 $b \to s\gamma$ 的速率，因此对于相同的参数空间区域，这两个观测结果均能与 MSSM 相符。然而，由此得到的 MSSM 拟合 $\chi^2$ 值仅略低，且 stop 区间的分裂必须高得不自然。