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集合大小的广义度量

综合数学 2012-11-13 v1

摘要

我们使用扩展的覆盖概念推广了度量,以便提供一种不同于基数的集合大小新方法。广义度量有应用背景,例如降维中的广义问题,并且有理由来自正大小和正刻度的最小值的存在,即最小值都是集合{0}\{0\}的大小。实际测量中正刻度的最小值提供了对象不能被任意分割的可能性,例如,区间[0,1][0, 1]不能被任意无限次分割以保持与正大小的最小值兼容。对于集合大小的度量,可以假设这个最小值是{0}\{0\}的大小,符号{0}|\{0\}|或刻度1。对于集合SS,我们将任何刻度推广为集合CiC_i的大小,其中xS(xCi)\exists x \in S (x \in C_i),并且S|S|由一个对表示,符号(C,N(C))(C, N(C)),其中C=CiC = \cup C_iN(C)N(C)CiC_i上的集合函数,CiC_i与顺序ii无关,N(C)N(C)反映CiC_i的数量。这个对是盒计数维度的推广形式。所得大小在一般情况下满足外测度的性质,在刻度1的情况下满足测度的性质;而从反向来看,测度是使用区间大小的刻度的大小。至于基数,所得大小是一一对应,只允许加法,是基数的弱形式,并使用维度将连续统假设重写为ω˙{0,1}=1\omega \dot |\{0,1\}| = 1。从反向来看,集合的基数是该集合刻度下的大小。广义度量提供了维度、测度、基数以及无穷的统一方法。

关键词

引用

@article{arxiv.1211.2760,
  title  = {Generalized measurement on size of set},
  author = {Hua-Rong Peng and Da-Hai Li and Qiong-Hua Wang},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1211.2760},
  year   = {2012}
}

备注

10 pages, 0 figures, using amsart