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立方体周期晶格图谱中的能隙

应用物理 2018-06-20 v1 材料科学 光学

摘要

我们定位了在顶点处具有δ\delta耦合的周期性立方体(一般而言超矩形)晶格图上哈密顿量的谱中的能隙。我们给出了能隙数目为有限的充分条件。作为主要结果,我们发现了能隙的排列与和晶格边长之比相关的连分数中的系数之间的联系。这一知识使得能够直接构造具有任意所需数量谱隙的周期性量子图,并在一定程度上控制其位置;即部分求解逆谱问题。

关键词

引用

@article{arxiv.1801.02573,
  title  = {Gallium phosphide-on-silicon dioxide photonic devices},
  author = {Katharina Schneider and Pol Welter and Yannick Baumgartner and Herwig Hahn and Lukas Czornomaz and Paul Seidler},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1801.02573},
  year   = {2018}
}