从一个电子到一个空穴：由电化学与等离子体刻蚀决定的石墨烯量子点中的准粒子计数
介观与纳米尺度物理
2010-07-27 v1
摘要
石墨烯被认为是未来电子学中极具前景的材料。所设想的晶体管应用通常依赖于对石墨烯片进行纳米级精度的精确切割。在这封信中，我们展示了使用原子力显微镜（AFM）结合针尖辅助电化学刻蚀技术制备的石墨烯量子点。这种光刻技术的分辨率约为 20 nm，通过采用更尖锐的针尖和更好的湿度控制，该分辨率可能进一步提高。我们最小量子点在磁场中的行为使我们能够确定电荷中性点，并区分量子点内剩下一个电子、无电荷和一个空穴的状态。
引用
@article{arxiv.1007.4503,
title = {From One Electron to One Hole: Quasiparticle Counting in Graphene Quantum Dots Determined by Electrochemical and Plasma Etching},
author = {S. Neubeck and L. A. Ponomarenko and F. Freitag and A. J. M. Giesbers and U. Zeitler and S. V. Morozov and P. Blake and A. K. Geim and K. S. Novoselov},
journal= {arXiv preprint arXiv:1007.4503},
year = {2010}
}