量子点接触中动态杂质引起的闪烁噪声
凝聚态物理
2009-10-22 v1
摘要
我们计算了在GaAs-AlGaAs异质结构的二维电子气中静电定义的量子点接触（QPC）中的低频噪声（LFN）。此类系统中LFN的传统来源是随时间波动的散射势对注入电子的作用。可以区分不同来源的势——噪声可能由外部施加的栅极和源漏电压、通道附近具有内部自由度的缺陷运动、掺杂区局域态之间的电子跳跃等引起。在本研究中，我们提出了一种基于QPC周围存在许多动态缺陷假设的LFN模型。推导了含时电流-电流关联函数的一般表达式，并将其应用于具有量子化电导的QPC。结果表明，在电导对栅极电压的曲线中，台阶处和台阶之间的LFN水平显著不同。在平台上，噪声水平较低且强烈依赖于模型。在台阶处，LFN大得多且对模型的依赖性较弱。只要系统偏置在相对于电导台阶的固定位置，
引用
@article{arxiv.cond-mat/9409081,
title = {Flicker Noise Induced by Dynamic Impurities in a Quantum Point Contact},
author = {J. P. Hessling and Yu. Galperin},
journal= {arXiv preprint arXiv:cond-mat/9409081},
year = {2009}
}
备注
26 revtex APR 94-40