利用存储器芯片的纳米电子特性防止集成电路仿冒
硬件体系结构
2022-10-03 v1 密码学与安全
机器学习
摘要
本研究提出一种非易失性存储器（NVM）芯片防伪方法。具体而言，我们通过实验展示了一种通用方法，用于检测（i）集成电路（IC）产地，（ii）翻新或已使用的NVM芯片，以及（iii）芯片中已使用位置（地址）的识别。我们提出的方法检测商用现货（COTS）NVM芯片的延迟与变异性特征。该技术需要低循环次数（约100次）的预处理，并利用机器学习（ML）算法。我们观察到不同厂商的不同NVM技术上延迟（扇区擦除或页写入）随循环演化的不同趋势。采用ML辅助方法检测IC制造商，在由3种不同NVM技术（含6个不同制造商、9种芯片）组成的测试数据集上获得了95.1%的准确率。
引用
@article{arxiv.2209.09197,
title = {Exploiting Nanoelectronic Properties of Memory Chips for Prevention of IC Counterfeiting},
author = {Supriya Chakraborty and Tamoghno Das and Manan Suri},
journal= {arXiv preprint arXiv:2209.09197},
year = {2022}
}
备注
5 pages, 5 figures, accepted in IEEE NANO 2022